Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A model has been proposed and solved in which all Darlington circuits may be represented to a first order approximation by five constants, one of which may be normalized. Experimental verification has been provided offering excellent agreement with theory. Several orders of magnitude improvement in current handling ability have been shown to exist for multistage Darlington circuits over conventional...
In spite of its importance in the rating and reliable application of power diodes and thyristors, the computation of instantaneous junction temperature has been a poorly understood and generally dreaded process among equipment designers. Under many practical circumstances, it has only been feasible by means of lengthy computer programs.
In this paper a simple means for accurately predicting the breakdown voltage of planar devices with a single field limiting ring is presented. A large mass of theoretical data was generated and then reduced to a single plot which shows the fraction of the ideal breakdown voltage that can be attained with the use of a field limiting ring. This curve can be applied to devices with virtually any substrate...